一個新的成像技術能在0.1納米尺度以下觀察材料，這個技術也許能使研究人員看到一個晶格中的單個雜質原子 ?，F有的透射電子顯微鏡(TEM)不能分辨0.15納米以下的物體，比如晶格中的一個原子隊列 。Peter D. Nellist和同事改造了一個TEM，得到了晶體硅的一個直接成像，能分辨出距離為0.078納米的硅原子對 。文章作者寫道，“這樣高的分辨率應該能給帶來對材料性質的原子尺度的了解，可能應用于材料、化學和納米科學” 。

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